بررسی تاثیر شیوه خشک سازی بر خواص اپتیکی فیلم های نازک نانو ساختاری اکسید نیکل

Authors

سیده ماندانا حمزه ساروی

department of physics, faculty of sciences, university of guilan, rasht, iranگروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه گیلان، رشت، ایران فرهاد اسمعیلی قدسی

department of physics, faculty of sciences, university of guilan, rasht, iranگروه فیزیک، دانشکده علوم پایه، دانشگاه گیلان، رشت، ایران

abstract

فیلم­های نازک نانو ساختاری اکسید نیکل با روش غوطه وری سل- ژل تهیه شدند. از سه روش (تابش فروسرخ، آون و مایکروفِر) برای خشک کردن فیلم­ها استفاده شد. اثر روش خشک­سازی روی خواص اپتیکی، مولکولی، الکتریکی، ساختاری و مورفولوژی فیلم­ها به ترتیب به­وسیله طیف سنج نوری مریی- فرابنفش، طیف­سنج تبدیل فوریه فروسرخ، اثر هال، پراش پرتو x، میکروسکوپ نیروی اتمی، و میکروسکوپ الکترونی روبشی مورد بررسی قرار گرفت. ثابت­های اپتیکی فیلم­های نازک اکسید نیکل با استفاده از رهیافت کمینه سازی نامقید نقطه گرا محاسبه شد. گاف نوار انرژی فیلم­ها در روش­های خشک سازی با تابش فروسرخ، فِر، و مایکروفِر به ترتیب 62/3، 59/3، و ev 47/3  به­دست آمد.  نقش پراش پرتو x نمونه­ها نشان می­دهد که فیلم­های خشک سازی شده با تابش فروسرخ آمورف بوده در حالی که با دو روش دیگر بلوری هستند.

Upgrade to premium to download articles

Sign up to access the full text

Already have an account?login

similar resources

بررسی تاثیر شیوه خشک سازی بر خواص اپتیکی فیلم های نازک نانو ساختاری اکسید نیکل

The nanostructured nickel oxide thin films were prepared by dip coating sol – gel method. Three methods (drying with oven, IR and microwave) have used for drying the films. The effect of drying method on the optical, molecular, electrical, structural, and morphology properties of the films were studied by Uv-Visible spectrophotometry, Fourier Transform Infrared spectroscopy, Hall effect, X-ray ...

full text

بررسی خواص ساختاری و اپتیکی لایه های نازک اکسید ایندیم قلع

در این تحقیق، لایه های نازک اکسید ایندیم قلع (ITO) به روش تبخیر با پرتو الکترونی بر روی زیرلایه های شیشه ای. با ضخامت‌های اسمی 50، 100، 170 و 250 نانومتر، با نرخ انباشت ثابت 10/0 نانومتر بر ثانیه لایه نشانی شده اند. دمای زیرلایه ها در خلال لایه نشانی در دمای 400 درجه سانتیگراد ثابت نگه داشته شد. از تکنیک های پراش پرتو ایکس (XRD) و بازتاب سنجی اشعه ایکس (XRR) برای آنالیز ساختاری لایه های نازک اس...

full text

بررسی خواص اپتیکی فیلم های نازک اکسید منیزیم تهیه شده به روش سل- ژل

فیلم‏های نازک اکسید منیزیم به روش سل- ژل تهیه شدند. اثر دمای بازپخت روی خواص اپتیکی، ساختاری و مورفولوژیکی فیلم‏ها با استفاده از ftir، uv-visible، اسپکتروسکوپی فوتولومینسانس (pl)، پراش پرتو x (xrd) و میکروسکوپ الکترونی روبشی (sem) بررسی شد. ثابت‏های اپتیکی و ضخامت فیلم‏ها با رهیافت کمینه‏سازی نامقید نقطه‏گرا تعیین شد. شفافیت اپتیکی فیلم‏ها با افزایش دما کاهش می‏یابد. با افزایش دما ضریب شکست و ض...

full text

My Resources

Save resource for easier access later


Journal title:
بلورشناسی و کانی شناسی ایران

جلد ۲۲، شماره ۲، صفحات ۲۰۷-۲۱۶

Hosted on Doprax cloud platform doprax.com

copyright © 2015-2023